TestWay™ - Règles "utilisateur"
TestWay™ propose une large gamme de règles qui couvre la conception, la testabilité et le lien CAO-TEST. L’émergence de nouvelles technologies vous impose de nouvelles règles !
La fonction “Customer’s Rules” vous permet maintenant de décrire vos propres règles.
La fonction “Customer’s Rules” vous permet maintenant de décrire vos propres règles.
Un langage simple et naturel
Plutôt que le langage C, ou des requêtes SQL, TestWay fournit une solution vous permettant d’écrire vos règles en langage naturel.
Vos propres requêtes pour vérifier :
- les règles de conception ;
- les règles CEM ;
- la programmation in-situ des EEPROMs et FPGAs ;
- les règles spécifiques pour les ASICs.
Vous n’aurez jamais deux fois le même problème car TestWay capitalise votre expérience par ces règles “utilisateur”.
Exemples
! Règles de conception et CEM
Pin (IN&DIGITAL) is not floating.
Pin (NC) is connected to GROUND.
! Testabilité des PLD et FPGA
Pin ISPEN* of device (ISPLSI) is connected to a pull-up.
Pin PWRDWN? (IN) of device XC30?? is accessible.
Pin M0 (IN) of device XC30?? is accessible.
Pin M1 (IN) of device XC30?? is accessible.
Pin M2 (IN) of device XC30?? is accessible.
! Programmation in-situ des EEPROMs
Pin A9 of device AM27C010 is protected by a device (DIODE).
Pin CE_ of device AM27C010 is accessible.
Pin OE_ of device AM27C010 is accessible.
Pin PGM_ of device AM27C010 is accessible.
Pin VPP of device AM27C010 is protected by a device (DIODE).
Pin VCC of device AM27C010 is protected by a device (DIODE).
Pin A9 of device AM29F040 is protected by a device (RESISTOR).
! Règles spécifiques à un ASIC.
Pin TNI of device PASS (ASIC) is connected to a pull-up.
Pin TRST of device (ASIC) is connected to a pull-down.
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