TPQR : Test Program Quality Report

ASTER Technologies, le leader en analyse de testabilité et de couverture de test des cartes électroniques, présente sa nouvelle génération d’outils “easy-to-use” pour l’analyse de carte.

TPQR [Test Program Quality Report] s’appuie sur le puissant outil d’analyse TestWay et permet à ses utilisateurs de quantifier et qualifier la couverture pour de nombreux équipements de test et d’inspection.

Test Report for Takaya flying prober

Ce produit a été mis au point pour relever les nombreux défis auxquels les responsables “produit” doivent faire face aujourd’hui, comme par exemple: la diminution des cycles de conception/fabrication, la compression des budgets et l’amélioration constante de la qualité des cartes électroniques. Plus précisément, à un moment où les clients s’attendent à acheter des “cartes bonnes uniquement”, il devient primordial d’appréhender la capacité d’un test à capturer les défauts de production.
En d’autres termes, “quel est le taux de couverture de test?”

Dans ce contexte, cette nouvelle génération de produits a été conçue pour être utilisée par les sous-traitants en électronique (EMS) et leurs clients, les fabricants d’équipements (OEM), afin de leur fournir une mesure de la couverture de test, précise, détaillée et impartiale.

QuadView-TPQR est un produit d’entrée de gamme qui permet aux utilisateurs de déterminer la couverture d’un équipement de test ou d’inspection. Cet outil importe directement le programme de test et calcule la couverture. Des rapports détaillés au format HTML et MS-Excel sont générés pour chaque équipement de test mais également pour l’ensemble de la ligne de production. Il identifie rapidement une déficience globale de couverture tout comme une déficience de n’importe quelle étape de test ou d’inspection.

TPQR analyse la capacité de chaque mesure à détecter un certain spectre de défauts en fonction du type de composant, de la valeur, de la tolérance, de l’environnement de mesure, de l’emplacement du composant, de sa forme, de son empattement…

TPQR est construit autour du noyau QuadView, visualisateur de nouvelle génération. Mettant à profit les capacités d’affichage du schéma d’implantation et du schéma électrique, il affiche à l’aide d’un code de couleur la couverture tant au niveau des composants que de leurs broches.

Il supporte plus de 35 équipements de test ou d’inspection (AOI, AXI, BST, FPT, ICT, et MDA) utilisés dans l’industrie telle que:
list_of_testersalt=”Acculogic: ScanNavigator, Scorpion, Sprint; Aeroflex: 42xx; Agilent Technologies: i3070, 5DX, SJ10, SJ50; Asset; Corelis; Dr. Eschke: CR350; Flynn Systems: onTAP; Goepel: CASCON, OPTICON; JTAG Technologies; MIRTEC: MV Series; MYDATA; OMRON; Orbotech: S22, TRION, VT9300; SAKI; SEICA: VIVA; SPEA: 3030, 4040; Takaya: APT8xxx, APT9xxx; Teradyne: Z1800, Spectrum, GR228x, TS124, TS128; TRI: TR7500, TR8001; VISCOM; VI-Technology: Vi Series; XJTAG et YESTech.”>

Avantages


TPQR Concept

Facilité d’utilisation

Visualiser la couverture de test, en important simplement le programme de test.

Licence évolutive

Convertir votre licence TPQR vers une configuration TestWay offrant des possibilités plus sophistiquées d’analyse.

Large éventail de testeur ou de moyen d’inspection

Importer le programme de test ou le rapport de mesure d’un large éventail de moyen : Acculogic: ScanNavigator, Scorpion, Sprint; Aeroflex: 42xx; Agilent Technologies: i3070, 5DX, SJ10, SJ50; Asset; Corelis; Dr. Eschke: CR350; Flynn Systems: onTAP; Goepel: CASCON, OPTICON; JTAG Technologies; MIRTEC: MV Series; MYDATA; OMRON; Orbotech: S22, TRION, VT9300; SAKI; SEICA: VIVA; SPEA: 3030, 4040; Takaya: APT8xxx, APT9xxx; Teradyne: Z1800, Spectrum, GR228x, TS124, TS128; TRI: TR7500, TR8001; VISCOM; VI-Technology: Vi Series; XJTAG et YESTech.

Analyse de couverture

Cette nouvelle gamme s’appuie sur la référence mondiale en analyse de couverture TestWay. Elle permet à ses utilisateurs de quantifier et qualifier la couverture pour de nombreux équipements de test et d’inspection. Elle est utilisée par les sous-traitants en électronique (EMS) et leurs clients, les fabricants d’équipements (OEM), afin de leur fournir une mesure de la couverture de test, précise, détaillée et impartiale.

Support des données CAO

Les projets FabMaster, TestExpert ou CAMCAD utilisés pour la génération de programme de test sont importés par TPQR pour modéliser et visualiser la carte équipée (layout). Alternativement, un large éventail de format Layout peut être importé incluant : Cadence, CADIF, GenCad, GenCam, Mentor Neutral, ODB++, Orcad, Pads, Protel, Zuken…

Rapport Complet

Créer des rapports HTML de la couverture de test. Les rapports ont été conçus pour être navigués par un simple navigateur Internet. Les utilisateurs peuvent partager des rapports interactifs de la conception jusqu’au test.

Rapport MS-Excel

Rapport Excel présentant la couverture sur le modèle PPVS. Ce modèle indique pour chaque composant la capacité du test à vérifier sa Présence, sa Polarité, sa Valeur, ses Soudures.

Code de couleur

Visualiser la couverture de test pour les composants et les broches en utilisant le codage de couleur “feu de circulation”.

Vert = Bien testé ;
Orange = Partiellement testé ;
Rouge = Pas testé.

Entièrement interactif

Autoriser la navigation interactive entre le rapport d’analyse et la représentation graphique de la carte.

Optimisation des temps de test

Lorsqu’un test à sondes mobiles TAKAYA est combiné avec un test Boundary-Scan/JTAG comme ACCULOGIC, ASSET, CORELIS, Flynn, GOEPEL, JTAG Technologies ou XJTAG, le programme de test TAKAYA est dynamiquement optimisé en éliminant les tests redondants. Le temps de test TAKAYA se voit réduit dans une proportion impressionnante allant de 30% à 80%, augmentant de façon significative le rendement de la ligne de production.

Pour en savoir plus


Informations complémentaires

 

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