TestWay: Vérification de la conception pour le test et analyseur de couverture de fautes

Trop souvent, les contraintes de fabrication et de test ne sont envisagées qu’à la fin de la phase de routage, avant le transfert des données CAO vers la production. En raison de la complexité des cartes, il est maintenant obligatoire d’ajouter une étape de validation à chaque étape de la conception et de la fabrication. TestWay a été créé pour permettre aux utilisateurs d’analyser chaque étape de la conception jusqu’à la livraison. Pour y arriver TestWay réalise les étapes suivantes:
    • Aide au choix des composants – Aidez-vous de TestWay pour choisir le bon composant en fonction du statut ROHS, la fiabilité, les défauts par million (DPMO) et la validité du fichier BSDL.
    • Vérification des règles de conception pour le test – Lorsque le schéma électrique est arrêté, TestWay vérifie la testabilité en effectuant une vérification des règles électriques selon les règles DFT standards. Des règles standards existent nativement dans le logiciel mais elles peuvent être complétées par vos propres règles personnelles.
    • Optimisation des points de test – En simulant la stratégie de test avant la phase de routage, TestWay permet de minimiser le besoin d’accès physique nécessaire pour analyser les défauts par rapport à l’univers des défauts. Ceci permet de réduire la quantité de point de test de 30% à 70%!
    • Placement les clous – Lorsque le routage est finalisé, le placement des clous doit être optimisé selon la stratégie de test. La liste des clous peut être utilisée pour obtenir une couverture de test, modéliser le coût, calculer le rendement de production ou calculer les taux de retour estimé selon la norme TL9000.
    • Choix de la stratégie de test – TestWay estime la couverture des tests en utilisant des modèles théoriques qui reflètent les capacités de test pour une large gamme de testeurs électrique ou d’inspection, comme par exemple: les machines de placement automatisées (APM), les machines à Inspection optique (AOI), les machines à inspection à rayons X (AXI), les Bancs de test Boundary-Scan (BST), les testeurs à sondes mobiles (FPT), les testeurs in-Circuit ICT (ICT) et les tests fonctionnels. Ces modèles doivent être ajustés pour refléter les capacités de test et de mesure de chaque type de testeur.
    • Fabriquer et tester – TestWay exporte des données CAO au format natif utilisables par les machines de pose, les testeurs à inspection optique, les testeurs à rayons X, les testeurs in-circuit, les testeurs à sondes mobiles et les testeurs Boundary-Scan. Les fichiers exportés peuvent inclure des programmes d’assemblage et de test, des modèles de test, ainsi que des fichiers de description d’interface de test utilisés par les testeurs. Tous les fichiers créés pendant la conception du schéma électrique peuvent réduire de manière significative les coûts de développement et le prix des interfaces de test.
    • Le Test à son maximum – Après la mise au point des programmes de test et d’inspection, il est important de pouvoir relire le programme de test ou le rapport de test pour pouvoir comparer la couverture de test théorique et la couverture réelle.
    • Le Test pour l’amélioration continue de la conception – Le test est un contributeur important à l’amélioration de la conception, la testabilité peut être améliorée grâce au retour d’expérience entre l’équipe test et l’équipe design.

Vérification des règles électriques


Les règles électriques de TestWay sont réparties en 3 catégories: règles de conception, règles de testabilité, règles Boundary-Scan. Ces règles sont dérivées des normes standards et comprennent des règles couramment appliquées dans l’industrie électronique. Les exigences spécifiques des clients peuvent être spécifiées dans une langue naturelle en utilisant les “custom rules” de TestWay.

Les règles électriques de TestWay valident en temps réel les exigences DFT spécifiques de l’entreprise et sont facilement personnalisées pour tenir compte des mises à jour des règles de testabilité, telles que:

  • Règles de conception pour vérifier les restrictions imposées par certaines technologies, par exemple les collecteurs ouvert, les “bushold”, les exigences spécifiques pour certaines entrées, l’immunité au bruit, etc.
  • Règles de test In-Circuit pour assurer le découpage des tests et le contrôle des entrées d’initialisation: “chip select”, “output enable”, entrées spéciales liées au test.
  • Règles Boundary-Scan pour vérifier l’intégrité de la chaîne, la conformité de la chaîne, la présence de résistances de Bypass, l’optimisation de la programmation des flashs, l’identification des clusters Boundary-Scan etc…
  • Règles personnalisées pour répondre à toutes les exigences spécifiques de testabilité interne. L’utilisateur peut définir et intégrer de nouvelles règles personnalisées en temps réel. Vous capitalisez ainsi l’expérience et vous évitez ainsi de refaire les mêmes erreurs.

Optimisation des points de test


Avec l’augmentation spectaculaire de la densité des composants sur les PCB, et donc le nombre de nœuds élevé, il est pratiquement impossible pour le test d’obtenir un accès pour chaque nœud. En équilibrant différentes approches de test complémentaires, telles que le test ICT, FPT et BST, TestWay optimise le positionnement des clous en tenant compte des priorités.

L’optimisation des points de test peut être intégrée aux outils de routage CIM pour identifier l’endroit où l’accès physique est nécessaire et rétro-annoter cette information dans le schéma électrique. De plus TestWay est capable de confirmer et de vérifier que le placement requit lors du routage correspond à ce qui avait été prévu initialement.

Placer les clous


Les clous sont placés en respectant vos règles mécaniques et DFT.
Les emplacements peuvent avoir été défini partiellement dans les données CAO, dans ce cas l’outil probe analyzer pourra être utilisé pour ajouter des clous sur les trous traversant (THT), les connecteurs, les vias, les “bead probes”, les zones de cuivre etc… en analysant les faces dessus et dessous.

Lorsque les emplacements possibles de clous ont été analysé, l’algorithme d’allocation choisit la meilleure optimisation selon les préférences de l’utilisateur.

Cette étape permet de calculer la couverture en fonction de l’accessibilité réelle.

TestWay génère un dossier complet pour la documentation :

  • Le rapport d’accessibilité, il liste les nœuds pour lesquels il n’y a pas d’accessibilité avec à chaque fois une explication sur la règle de placement qui interdit l’accessibilité.
  • Liste de perçage.
  • Liste des clous au format MS-EXCEL.
  • Rétro annotation des clous dans le schéma électrique, très pratique pour la réparation, on visualise ainsi les clous directement dans les vues : carte équipée, schématique et d’interconnexion avec une interaction entre toutes ces vues.

Choix de la stratégie de test


Pour pouvoir décider de la solution de la ligne de test, il faut tenir compte des machines de test disponibles (AOI, AXI, BST, ICT, FPT et Test fonctionnel).
La “ligne de test” est facilement définie à l’aide d’une simple opération de glisser-déposer. Les modèles de test théoriques pour l’estimation de la couverture et les modèles de test réels pour la mesure de la couverture peuvent être combinés pour refléter votre stratégie de fabrication.

Les boutons “jauge” offrent une vue rapide de la qualité de modélisation des composants et du niveau de l’accessibilité de la carte. Pour revoir chaque rapport vous cliquez simplement sur les boutons jauges!

Estimation de la couverture de test


Chacune des stratégies de test théorique permet de modifier les paramètres du testeur pour une stratégie de test particulière.
Afin de fournir une estimation plus précise, toutes les caractéristiques de test spécifiques qui sont disponibles sont utilisées pendant l’analyse. Ceci permet d’ajuster la couverture prédictive à la couverture réelle du testeur.

TestWay gère l’optimisation multi-testeur sur la ligne de test, comme par exemple le Boundary-Scan ou l’AOI qui peuvent être utilisés pour minimiser le test in-circuit ou le test à sondes mobiles.

Fabriquer et tester


Les simulations de stratégies de test sont utilisées pour automatiser la génération des programmes pour les machines d’assemblage, pour les machines in-circuit (ICT), pour les machines à sondes mobiles (FPT), pour les machines à rayon X (AXI), pour les machines à inspection (AOI) et pour les bancs de tests Boundary-Scan test (BST).
Des processeurs de sortie pour la plupart des principaux fournisseurs de ces machines sont disponibles, tels que Acculogic, Aeroflex, Agilent, Asset, Goepel Electronics, JTAG Technologies, Takaya, Teradyne/Genrad, Mydata, XJTAG et Voir une liste plus complète.

En plus de créer les fichiers d’entrée des machines de test, TestWay Express génère des modèles de test pour les composants analogiques à éléments multiples ainsi que des modèles numériques. Contactez-nous pour plus de détails.

Le Test à son maximum: Vérifier la couverture réelle


La couverture réelle des tests est déterminée après le développement du test en analysant le programme de test ou les rapports de couverture produits par les machines de test ou d’inspection.
Des rapports d’analyse de couverture de test peuvent être créés pour refléter ce qui est réellement testé en analysant la couverture réelle. Les indicateurs standard de l’industrie tels que PPVS (Présence, Polarité, Valeur, Soudure) ou PCOLA / SOQ (Placement, Correct, Orientation, Live, Alignment / Short, Open, Quality) sont utilisés dans l’analyse de couverture.

“Nous ne pouvons qu’améliorer ce qui peut être mesuré.”
Il est possible d’identifier les écarts dans le cadre de l’amélioration continue en obtenant un point
de référence à partir de l’estimation de la couverture prédictive et en le comparant avec la couverture fournie par le programme de test réel en cours d’exécution.

Tous les pas de test commentés doivent être identifiés et corrigés avant la mise en production de la grande série. Les outils de traçabilité et de qualité utilisés dans le diagnostic et la réparation des cartes de circuit imprimé peuvent profiter de l’analyse détaillée de la couverture de test pour améliorer la résolution du diagnostic et accélérer le processus de réparation.

 

Avantages


Facilité d’utilisation

Être guider dans le projet. Ajoutez plusieurs stratégies de test pour l’analyse de projet, avec une simple opération de glisser-déposer dans la liste machine.

Vérification des règles de conception schématique

Vérifier que vos règles de conception spécifiques ont été appliquées avant d’engager le routage du cuivre. Empêcher les erreurs de conception coûteuses le plus tôt possible.

Vérification de la conception de votre carte pour le test

Vérifier que les exigences de DFT sont respectées afin de maximiser la couverture de test. Fournir des règles de test in-circuit pour assurer le découpage des tests et le contrôle des broches d’initialisation. Règles Boundary-Scan pour vérifier l’intégrité de la chaîne, la conformité de la chaîne, vérifier la sélection du bus de test etc…

Vérification de la testabilité avec des règles personnalisables

Définir et implémenter vos propres règles client, règles qui reflètent des règles de testabilité spécifiques de votre société.

Calcul la position des clous et l’accessibilité

Positionner des clous selon vos règles pour les faces dessus ou dessous en utilisant les points de test, les connecteurs, les vias, les trous traversants (THT), les connecteurs, les vias, les “bead probes”, les zones de cuivre etc… , et générer des rapports d’accessibilité détaillés.

Estimation de la couverture de test

Maximiser la couverture de test et d’inspection en estimant la couverture par rapport à la stratégie de test choisie. Effectuer une analyse prédictive pour sélectionner une stratégie de test optimale pour obtenir une couverture maximale basée sur les données DPMO historiques et éliminer les étapes de test redondantes. L’analyse de la couverture de test résultante peut être visualisée graphiquement dans le visualisateur ou comme rapport de couverture test coverage report (PDF file, 54k) Adobe Acrobat PDF

Prise en charge de la couverture de test fonctionnelle

Gérer le test fonctionnel dans le cadre de la stratégie de test globale, produire des rapports de couverture précis qui aident au diagnostic des cartes défectueuses dans les centres de production et de réparation.
Éliminez les étapes de test redondantes.

Génération des fichiers de sorties vers les machines de test

Génération des fichiers d’entrée pour les testeurs suivants Boundary-Scan, In-Circuit; Testeurs à sondes mobiles avec la description de la carte et les modèles de composant.

Création des programmes assistée

Générer les fichiers d’entrée pour les testeurs AOI, AXI, BST, ICT, FPT en quelques minutes ou heures alors qu’il faudrait plusieurs heures avec d’autres outils.

Estimation de la couverture de test

Déterminer la couverture de test réelle et comparer la à l’estimation théorique pour identifier les zones à améliorer.

Estimation du taux de cartes bonnes

Estimer le taux de cartes bonnes en important les données DPMO réelles pour le process de fabrication pour affiner la stratégie de test et obtenir une couverture de test optimale.

Gestion des classes composants

Visualiser et éditer les attributs composant comme les numéros d’article, les formes CAO, les classes, les valeurs, les tolérances, le statut de montage, etc.
Le logiciel s’assure également que toutes les informations minimales sont présentes.

Visualisation avancée

Visualiser la couverture de test et les attributs spécifiques dans les vues schématiques, carte équipée. Cette nouvelle génération de visualisateur fournit également une fonctionnalité de numérisation unique qui crée une vue schématique à partir d’un PDF.

Estimation du cout du test

Évaluer les temps d’exécution du test, le temps de développement total et calculer les coûts matériels tels que : le cadre de l’interface, le câblage, les clous, les capteurs vector-less, etc.

Reporting avancé

Produire des rapports complets dans une variété de formats qui mettent l’accent sur le rendement de la production, la couverture des tests par composant, le temps de placement estimé, etc…

Pour en savoir plus


Informations supplémentaires

Autres produits

  • QuadView, Nouvelle génération de visualisateurs
  • TPQR, Test Program Quality Report
  • Quad, Quality advisor and manager

Une sélection de nos clients:

A selection of our customers
Nov 13-16

Electronica Munich 2018

Nov 13 - Nov 16
Munich
Oct 23-24

Enova Paris 2018

Oct 23 - Oct 24
Paris
France
Oct 11

Réunion Utilisateurs 2018 TestWay – QuadView -Quad

Oct 11 @ 9 h 00 min - 16 h 30 min CEST
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Oct 4
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