A l’occasion du salon Electronica 2010, ASTER Technologies, le leader en analyse de testabilité et de couverture de test des cartes électroniques, annonce le premier outil d’estimation du rendement de production complétant l’outil d’analyse de couverture de test, TestWay Express.
Le calcul des rendements de production (First Pass Yield) et des autres mesures IPC de la qualité est devenu de plus en plus important compte tenu de l’augmentation de la sous-traitance dans la production de produits de haute technologie. Les équipes « projets » et leurs dirigeants ont besoin d’estimations précises des rendements des nouveaux produits afin d’établir les budgets pour le test, le matériel de dépannage et les ressources d’ingénierie. En outre, les directions ont besoin de comparer les fournisseurs potentiels afin de déterminer leur qualité de fabrication.

Dans les modèles Qualité , le coût du test est dérivé de l’estimation de la quantité de défauts après le test (FPY) basée sur la qualité de la conception et des étapes du processus de fabrication. Pour chaque composant, les taux de défauts par catégorie sont exprimés en PPM (Part Per million). Ces probabilités de défauts sont additionnées au niveau de la carte électronique et servent de base pour établir la meilleure stratégie de test à développer pour réduire les coûts de production et de dépannage.

La mesure clé pour la compréhension de la qualité d’un produit livré est le «Slip », ou «taux de fuite. Une «fuite» est un défaut qui n’a pas été capturé par les processus de test, mais qui est malheureusement visible par le client final. Lorsque des défauts sont exposés au client final, ils sont très coûteux et sont susceptibles d’endommager l’image de marque de l’entreprise.

Mr Christophe LOTZ, président d’ASTER précise: « TestWay Express est une solution conçue pour répondre à une question cruciale : Comment connaître, par avance, le volume de produits expédié au client final, comportant encore des défauts de fabrication afin de réduire les retours clients ? ».

TestWay Express estime le rendement de production en important les occurrences de défauts (DPMO) exprimées en PPM, en temps réel à partir de la ligne de production. Il permet ainsi d’adapter la stratégie de test en production pour établir la couverture de test optimale identifiant les défauts d’un produit et minimisant le taux de fuite.

Lorsqu’une carte passe une étape de test, cela n’implique pas nécessairement que la carte soit bonne puisque la couverture de test peut être limitée. Donc, il est de plus en plus important de lier les occurrences de défauts, les métriques « qualité » de l’IPC avec la couverture de test à travers le logiciel TestWay Express.

La couverture de test est estimée en utilisant des modèles théoriques pour un large éventail de stratégies de test et d’inspection tel que : AOI, AXI, BST, FPT, ICT, etc… sans oublier le test fonctionnel.

Une fois que les programmes de test ou d’inspection ont été développés, TestWay Express peut les analyser et comparer la couverture estimée avec celle réellement obtenue. Les anomalies sont rapidement identifiées.

Plus de 45 équipements de test ou d’inspection, utilisés dans l’industrie de production électronique, sont actuellement supportés: Acculogic (BS, Scorpion, SPRINT); Aeroflex (4200, 5800); Agilent Technologies (i1000, i3070, 5DX, SJ10, SJ50); ASSET; CHECKSUM; CORELIS; CyberOptics, DrEschke; GOEPEL (CASCON, OPTICON); JTAG Technologies; Mirtec; MYDATA, OMRON; Orbotech; SAKI; SEICA; SPEA (3030, 4040); TAKAYA (APT8000, APT9000); Teradyne (Z1800, Spectrum, GR228x, TS124); TRI (TR7500, TR8001); VI Technology; VISCOM; XJTAG and YESTech.

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Nov 15-19

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