ASTER TECHNOLOGIES vous invite à GLOBAL INDUSTRIE Eurexpo Lyon! Eurexpo LYON – Village Electr...

ASTER Technologies is exhibiting during Electronica in Munich between November 15 and 18, 202...

ASTER TECHNOLOGIES vous invite au salon SEPEM Toulouse! MEETT – Parc des Expositions de Toulou...

ASTER TECHNOLOGIES vous invite à GLOBAL INDUSTRIE Paris Villepinte! PARIS EXPO PORTE DE VERSAILLES ...

ASTER Technologies sera présent à l’IPC APEX EXPO à San Diego du 25 au 27 janvier 2022. Ren...

ASTER TECHNOLOGIES vous invite à GLOBAL INDUSTRIE Paris Villepinte! PARIS EXPO PORTE DE VERSAILLES ...

ASTER Technologies seront présent à Productronica à Munich du 12 au 15 novembre 2019. Venez nous ...

ASTER TECHNOLOGIES vous invite au Forum de l’Électronique à Paris ! PARIS EXPO PORTE DE VERSAILL...

ASTER Technologies sera pr̩sente au salon Nepcon China 2019, stand 1N13 РHall 1. Il aura lie...

ASTER Technologies sera présent à l’APEX EXPO à San Diego du 26 au 31 janvier 2019. Rendez ...

ASTER Technologies sera présent lors du salon ENOVA sur Paris, stand D52. Ce salon sera l’occ...

Lors de cette journée de 9h00 à 16h30 nous vous présentons : Nos dernières innovations, Nos nouv...

ASTER Technologies expose le jeudi 04 octobre au salon NIDAYS à Paris. Nous vous présenterons notr...

Parc des expositions – Toulouse ASTER TECHNOLOGIES vous invite au salon ENOVA à TOULOUSE ! N...

ASTER Technologies sera présent au “Del Mar Electronic & Manufacturing Show” à San...

ASTER Technologies sera pr̩sente au salon Nepcon China 2018, stand 1E57 РHall 1. Il aura lie...

Venez nous rendre visite, au Stand A12 à la Journée Régionale de l’Électronique 2018 de Norman...

ASTER Technologies sera présent à l’APEX EXPO à San Diego du 27 février au 1er mars 2018. ...

STAND N° A38 Cité Centre de Congrès Halls 4-5-6 ASTER TECHNOLOGIES vous invite au salon ENOVA Ã...

Venez nous rendre visite au Journée Régionale de l’Electronique 2017 de Lille

ASTER Technologies sont présents à Productronica Munich entre le 14 et le 17 Novembre 2017. Alors ...

Nouveautés: Testway Express se dote d’un module d’analyse de la couverture des testeurs de câb...

Salon CiEN, Démonstration des nouveautés ASTER PARIS Porte de Versailles Pavillon 7.1

EnovaParis, Stand D91

IEEE AUTOTESTCON, ASTER Technologies sont présents à l’IEEE AUTOTESTCON au stand 1004

Design for Excellence (DfX) – Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth 1N17

Venez nous rendre visite à notre stand 1651

Productronica, Rendez visite à ASTER à Productronica, Hall A1, stand 232. Information & inscr...

IEEE AUTOTESTCON, Rendez visite à ASTER à l’IEEE AUTOTESTCON, Stand 431. Information & i...

Enova Paris, Hall 4, Stand E56. Badge gratuit Communiqué de presse

NEPCON China, Design for Excellence (DfX) – Rendez visite à ASTER au stand B-1J14 pendant le ...

IPC APEX EXPO, ASTER Technologies sont présents à l’APEX Expo du 24 au 26 février 2015, sta...

Electronica, ASTER Technologies sont présents à l’Electronica 2014. Alors pourquoi pas veni...

NEPCON China, Design for Excellence (DfX) – Rendez visite à ASTER au stand A1-1G85 pendant le...

IPC APEX EXPO, Booth 607

Productronica, Hall A1, Stand 232

Enova Paris, Hall 7.2 Stand K33. Badge gratuit.

NEPCON China, Design for Excellence (DfX) – Venez voir ASTER au stand 1E52 pendant le salon de...

FIEE, rendez visite à ASTER sur le stand de TEKNOSIP, stand I-78

IPC APEX EXPO, ASTER présente TestWay Express, sa nouvelle technologie pour la prise en compte des ...

Electronica, Hall A1 – Stand 352. Des tickets d’entrée sont à votre disposition sur si...

Salon CiEN, Démonstration des nouveautés ASTER

Productronica India, Hall 3 – Stand iNETest 3150

NEPCON China, Design For Profitability. iNETest travaille avec Aster en temps que partenaire stratÃ...

Southern Manufacturing & Electronics Exhibition, Stand A55, FIVE

Productronica, Hall A1 Stand 232

Electronica, Hall A1 – Stand 352. Des tickets d’entrée sont à votre disposition sur si...

ASTER expose à MATELEC, Hall 7, Stand Accelonix B007

GOEPEL Technology Day, En apprendre plus sur le nouvel outil d’analyse de couverture de test &...