Une sélection de nos clients :

Clients d'ASTER statisfaits


Actualité :

du 19-SEP-2017 au 21-SEP-2017 :
ENOVA Paris - Stand P24 (Paris, France)
%%10
enova2017

separator
04-MAY-2017 :
ACSIEL - Rendez-nous visite a la Journée régionale de l'électronique (Nantes, France)
%%10
ACSIEL-JRE-2017_bandeau_Evenium

separator
du 25-APR-2017 au 27-APR-2017 :
Nepcon CHINA - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth 1N14 (Shanghai, Chine)
%%10
NEPCON-China-2017-Show-Logo

separator
du 14-FEB-2017 au 16-FEB-2017 :
APEX EXPO - ASTER Technologies are exhibiting at the APEX EXPO in San Diego between February 14th - 16th, 2017. So why not visit booth 3844 during the show, when we can discuss your requirements and demonstrate the many features of our analysis tools. (San Diego, Etats-Unis)
%%10
en-apex2017

separator
du 08-NOV-2016 au 11-NOV-2016 :
ASTER announces the first system level PCB viewer integrated with National Instruments TestStand.
Rendez visite à ASTER a Electronica, Hall A1, stand 232.
%%10
en-electronica2016

separator
14-SEP-2016 & 15-SEP-2016 :
ENOVA Paris - Stand D91 (Paris, France)
%%10
enova

separator
du 12-SEP-2016 au 15-SEP-2016 :
Autotestcon - ASTER Technologies are exhibiting at Autotestcon on booth 1004 (Anaheim, Etats-Unis)
%%10
autotestcon2016

separator
du 26-APR-2016 au 28-APR-2016 :
Nepcon CHINA - Design for Excellence (DfX) - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth 1N17 (Shanghai, Chine)
%%10
NEPCON-China-2016-Show-Logo

separator
du 15-MAR-2016 au 17-MAR-2016 :
IPC APEX EXPO - Pleasevisit us at booth 1651 (Las vegas, Etats-Unis)
%%10
en-apex2016

separator
07-MAR-2016 :
March 2016 - Newsletter n.14: Visit ASTER at IPC APEX EXPO 2016 Show in Las Vegas
separator
21-OCT-2015 :
TestWay news 2015
separator
21-OCT-2015 :
November 2015 - Newsletter n.12: Visit ASTER at the AUTOTESTCON 2015 Show in Maryland, USA
separator
du 10-NOV-2015 au 13-NOV-2015 :
Productronica - Rendez visite à ASTER a Productronica, Hall A1, stand 232. Information & incription (Munich, Allemagne)
%%10
en-productronica2015

separator
du 03-NOV-2015 au 05-NOV-2015 :
IEEE AUTOTESTCON - Rendez visite à ASTER sur le stand IEEE AutoTestCon, Stand 431. Information & inscription. Press release (National Harbor, Etats-Unis)
%%10
autotestcon

separator
du 22-SEP-2015 au 24-SEP-2015 :
ENOVA Paris - Hall 4, Stand E56. Badge gratuit (Paris, France)
%%10
enova

separator
du 21-APR-2015 au 23-APR-2015 :
Nepcon CHINA - Design for Excellence (DfX) - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth B-1J14 (Shanghai, Chine)
%%10
2015nel

separator
du 24-FEB-2015 au 26-FEB-2015 :
IPC APEX EXPO - ASTER Technologies are exhibiting at APEX Expo between February 24th - 26th, 2015, Booth 415. So why not visit the booth during the show, when we can discuss your requirements and demonstrate the many features of our analysis tools. (San Diego, Etats-Unis)
%%10
apex

separator
du 11-NOV-2014 au 14-NOV-2014 :
Electronica - ASTER Technologies are exhibiting at Electronica.
So why not visit the booth A1 352 when we can discuss your requirements and demonstrate our DfX & test coverage analysis tools. Read more …with our press release. (Munich, Allemagne)
%%10
en-electronica2014

separator
du 23-APR-2014 au 25-APR-2014 :
Nepcon CHINA - Design for Excellence (DfX) - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth A1-1G85 (Shanghai, Chine)
%%10
2014nel

separator
du 25-MAR-2014 au 27-MAR-2014 :
IPC APEX EXPO - Stand 607 (Las vegas, Etats-Unis)
%%10
apex2014

separator
>> More...
  Produits   Services   Événements   Entreprise
Contact   ASTER Présence géographique Présence géographique
Choisissez
votre langue:
English version  Version française
 

Evénements et actualité d'ASTER

Evénements

Date Sujet Lieu
du 19-SEP-2017 au 21-SEP-2017ENOVA Paris, Stand P24 Paris - France
04-MAY-2017ACSIEL, Rendez-nous visite a la Journée régionale de l'électronique Nantes - France
du 25-APR-2017 au 27-APR-2017Nepcon CHINA, Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth 1N14 Shanghai - Chine
du 14-FEB-2017 au 16-FEB-2017APEX EXPO, ASTER Technologies are exhibiting at the APEX EXPO in San Diego between February 14th - 16th, 2017. So why not visit booth 3844 during the show, when we can discuss your requirements and demonstrate the many features of our analysis tools. San Diego - Etats-Unis
14-SEP-2016 & 15-SEP-2016ENOVA Paris, Stand D91 Paris - France
du 12-SEP-2016 au 15-SEP-2016Autotestcon, ASTER Technologies are exhibiting at Autotestcon on booth 1004 Anaheim - Etats-Unis
du 26-APR-2016 au 28-APR-2016Nepcon CHINA, Design for Excellence (DfX) - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth 1N17 Shanghai - Chine
du 15-MAR-2016 au 17-MAR-2016IPC APEX EXPO, Pleasevisit us at booth 1651 Las vegas - Etats-Unis
du 10-NOV-2015 au 13-NOV-2015Productronica, Rendez visite à ASTER a Productronica, Hall A1, stand 232. Information & incription Munich - Allemagne
du 03-NOV-2015 au 05-NOV-2015IEEE AUTOTESTCON, Rendez visite à ASTER sur le stand IEEE AutoTestCon, Stand 431. Information & inscription. Press release National Harbor - Etats-Unis
du 22-SEP-2015 au 24-SEP-2015ENOVA Paris, Hall 4, Stand E56. Badge gratuit Paris - France
du 21-APR-2015 au 23-APR-2015Nepcon CHINA, Design for Excellence (DfX) - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth B-1J14 Shanghai - Chine
du 24-FEB-2015 au 26-FEB-2015IPC APEX EXPO, ASTER Technologies are exhibiting at APEX Expo between February 24th - 26th, 2015, Booth 415. So why not visit the booth during the show, when we can discuss your requirements and demonstrate the many features of our analysis tools. San Diego - Etats-Unis
du 11-NOV-2014 au 14-NOV-2014Electronica, ASTER Technologies are exhibiting at Electronica.
So why not visit the booth A1 352 when we can discuss your requirements and demonstrate our DfX & test coverage analysis tools. Read more …with our press release.
Munich - Allemagne
du 23-APR-2014 au 25-APR-2014Nepcon CHINA, Design for Excellence (DfX) - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth A1-1G85 Shanghai - Chine
du 25-MAR-2014 au 27-MAR-2014IPC APEX EXPO, Stand 607 Las vegas - Etats-Unis
du 12-NOV-2013 au 15-NOV-2013Productronica, Hall A1, stand 232 Munich - Allemagne
du 08-OCT-2013 au 10-OCT-2013ENOVA Paris, Hall 7.2 Stand K33. Badge gratuit Paris - France
du 23-APR-2013 au 25-APR-2013Nepcon CHINA, Design for Excellence (DfX) - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth 1E52 Shanghai - Chine
du 01-APR-2013 au 05-APR-2013FIEE, rendez visite à ASTER sur le stand de TEKNOSIP, stand I-78 Anhembi - Brésil
du 19-FEB-2013 au 21-FEB-2013IPC APEX EXPO, ASTER présente TestWay Express, sa nouvelle technologie pour la prise en compte des contraintes DfX des premières phases de conception jusqu'à la production. Venez nous rendre visite à IPC APEX Expo, stand 2949. San Diego - Etats-Unis
du 13-NOV-2012 au 16-NOV-2012Electronica, Hall A1 - Stand 352. Des tickets d'entrée sont à votre disposition sur simple demande.Munich - Allemagne
du 23-OCT-2012 au 25-OCT-2012Salon CiEN, Démonstration des nouveautés ASTER Paris - France
du 11-SEP-2012 au 13-SEP-2012Productronica India, Hall 3 - Stand iNETest 3150 Bangalore - Inde
du 24-APR-2012 au 27-APR-2012Nepcon CHINA, Design For Profitability.iNETest works with Aster as their strategic sales and service partner in Asia. The company provides board-level testability analysis tools. Rui Meng discusses how the company turns customers' investment into profit. Shanghai - Chine
15-FEB-2012 & 16-FEB-2012Southern Manufacturing & Electronics Exhibition, Stand A55, FIVE Farnborough - United Kingdom
du 15-NOV-2011 au 18-NOV-2011Productronica, Hall A1 stand 232 Munich - Allemagne
du 24-MAY-2011 au 26-MAY-2011Salon CiEN, Démonstration des nouveautés ASTER PARIS Porte de Versailles Pavillon 7.1Paris - France
du 09-NOV-2010 au 12-NOV-2010Electronica, Hall A1 - Stand 352. Des tickets d'entrée sont à votre disposition sur simple demande.Munich - Allemagne
du 26-OCT-2010 au 29-OCT-2010ASTER expose à MATELEC, Hall 7, Stand Accelonix B007 Madrid - Espagne
05-OCT-2010GOEPEL Technology Day, Learn about the new "TestWay Express" test coverage analysis tool from ASTER. You can still register online before or during the workshop. Uttoxeter Racecourse - Royaume Uni
du 14-SEP-2010 au 16-SEP-2010BTW2010 - IEEE 9th Board Test Workshop, Agilent Technologies and ASTER are presenting a paper. Test Coverage Consultant - A coverage tool to explore the question:"What does it mean when the board test passes?" BTW10 will focus on current issues and trends related to board test. Similar to prior Board Test workshops, perspectives are invited from contract manufacturers, test equipment providers, researchers, end users and systems providers.Fort Collins, Colorado - Etats-Unis
du 01-JUN-2010 au 03-JUN-2010Salon CiEN, stand H31 PARIS Porte de Versailles Pavillon 7.1 Invitation gratuite avec le mot de passe IAParis - France
29-OCT-2009Outils de conception et de contrôle pour les entreprises de l'électronique , Venez découvrir de nouveaux outils destinés aux Bureaux d'études, fabricants, sous-traitants pour réduire drastiquement les délais de mise sur le marché.Inscription gratuite Seront aussi disponibles: des équipements diversifiés et des services en région Ouest (Analyse concurrentielle, Retro conception, Contrôle non destructifs de cartes, de prototypes et de produits électroniques par rayon X…).Morlaix - France
du 10-NOV-2009 au 13-NOV-2009Productronica, Hall A1 stand 232 Munich - Allemagne
13-OCT-2009GOEPEL Technology Day, Inscrivez-vous et apprenez comment " TestWay " peut réduire les coûts de test et fabrication de vos cartes en fournissant une analyse de couverture test et DfT très tôt dans le cycle de développement du produit. Découvrez également les dernières nouveautés sur le Boundary-Scan et les solutions d'Inspection Optique Automatique (AOI).Southampton - Royaume Uni
du 06-OCT-2009 au 08-OCT-2009Forum de l'Electronique, Hall 1 stand C 57. Badge gratuit Mot de passe: IA Paris-Nord Villepinte - France
03 & 05-MAR-2009Goepel Technology Days, Venez assister aux présentations ASTER pendant ces séminaires en Angleterre. A Cambridge le 3 mars, et à Bristol le 5 mars 2009. www.goepel.com
du 11-NOV-2008 au 14-NOV-2008Electronica, Hall A1 - Stand 549. Des tickets d'entrée sont à votre disposition sur simple demande.Munich - Allemagne
du 30-SEP-2008 au 02-OCT-2008Forum de l'Electronique, Hall 2 Stand 2-N100. Des tickets d'entrée sont à votre disposition sur simple demande.Paris-Nord Villepinte - France
du 09-SEP-2008 au 11-SEP-2008Autotestcon, Rendez visite à ASTER sur le stand Global Test Solutions, Stand 930. Information & inscription Salt Lake City - Etats-Unis
du 17-JUN-2008 au 19-JUN-2008National Electronics Week, Rendez visite à ASTER sur le stand Accelonix, Hall 2, Stand D60. London - Royaume Uni
10-JUN-2008First ASTER Chinese Users' Group, Venez partager les expériences d'autres utilisateurs et restez informés des nouveautés sur les développements des produits. Version anglophone - Version chinoise Shanghai - Chine
du 13-NOV-2007 au 16-NOV-2007Productronica, Hall A1 - Stand 452 Munich - Allemagne
du 25-SEP-2007 au 27-SEP-2007Forum de l'Electronique, Hall 7.2 - Stand R98 Paris - France
du 15-MAY-2007 au 17-MAY-2007Nepcon UK, Stand G46 Birmingham NEC - Royaume Uni
28-FEB-2007Boundary Scan Day, organisé par GOEPEL Electronic Cambridge University - Royaume Uni
08-FEB-2007Test In Production Event, organisé par ACCELONIX Eindhoven - Pays Bas

Actualité

Date Nouvelle
du 08-NOV-2016 au 11-NOV-2016Electronica ASTER announces the first system level PCB viewer integrated with National Instruments TestStand.
Rendez visite à ASTER a Electronica, Hall A1, stand 232.
07-MAR-2016 March 2016 - Newsletter n.14: Visit ASTER at IPC APEX EXPO 2016 Show in Las Vegas
21-OCT-2015 TestWay news 2015
21-OCT-2015 November 2015 - Newsletter n.12: Visit ASTER at the AUTOTESTCON 2015 Show in Maryland, USA
30-NOV-2011 Novembre 2011 - Newletter n° 11 : Visit ASTER during the PRODUCTONICA 2011 Show in Munich.
16-JUN-2011ASTER reçoit l'Electron d'Or 2011 pour ses recherches en testabilité électronique.
- Communique de presse
- Article de la revue Electroniques ASTER reçoit l'Electron d'Or 2011 pour ses recherches en testabilité électronique.
- Communique de presse
- Article de la revue Electroniques (Fichier PDF, ) Adobe Acrobat PDF
18-MAY-2011 Mai 2011 - Newsletter n°9 : TestWay 4ever - La seule solution DfT interopérable de la conception à production
10-AUG-2010 ASTER renouvelle son partenariat avec Mentor Graphics dans le cadre du programme OpenDoor.
18-MAY-2010 Mai 2010 - Newsletter n°8 : CIEN, Démonstration des nouveautés ASTER
19-OCT-2009 Communiqué de presse : ASTER Technologies et ITOCHU SysTech annoncent un partenariat stratégique qui permet aux clients TAKAYA d 'accéder à un outil d 'analyse de couverture de test. (Fichier PDF, 154k) Adobe Acrobat PDF
20-SEP-2009 Septembre 2009 - Newsletter n°7 : ScanBooster Designer Studio: un excellent rapport performance/prix pour un outil JTAG/Boundary-Scan
23-JUN-2009 Juin 2009 - Newsletter N°6 : Demandez une analyse de couverture de test GRATUITE!
05-DEC-2008 Décembre 2008 - Newsletter N°5: ASTER lance l'analyse de couverture "low-cost"
20-NOV-2008 ASTER renouvelle son partenariat avec Mentor Graphics dans le cadre du programme OpenDoor.
24-OCT-2008 ASTER Technologies lance une nouvelle génération d'outils "easy-to-use" pour l'analyse de couverture de test. Revue de presse (Fichier PDF, 406k) Adobe Acrobat PDF
10-JUL-2008 Success Stories : Témoignage de KONTRON. KONTRON récolte les fruits de son utilisation de TestWay pour l'analyse de la couverture de test et la standardisation de sa methodologie DfT (Fichier PDF, 183k) Adobe Acrobat PDF
26-MAY-2008 Mai 2008 - Newsletter n°4 : New test coverage loaders added to the TestWay portfolio.
19-MAY-2008 Accelonix nommé distributeur officiel de QUAD, au Royaume Uni et en Europe Centrale. (Fichier PDF, 163k) Adobe Acrobat PDF
du 08-APR-2008 au 10-APR-2008 "Is a board 'good' because the test passes?", publication technique sur l'Analyse de Couverture de Test, presenté lors de l' "Aerospace Testing Seminar". (Fichier PDF, 620k) Adobe Acrobat PDF
28-FEB-2008 Publication de l'article Quad - Une solution dédiée rationalise le contrôle de la qualité des cartes dans la revue 'Electronique International'. "Modulable, flexible, ergonomique, l'outil logiciel Quad d'ASTER Technologies est conçu pour les fabricants et sous-traitants impliqués dans des productions à forte valeur ajoutée." (Fichier PDF, 654k) Adobe Acrobat PDF
19-FEB-2008 ASTER nomme Testforce comme Distributeur au Canada. (Fichier PDF, 22k) Adobe Acrobat PDF
04-OCT-2007 ASTER Technologies, Distributeur de CAMCAD en France. La signature d'un partenariat commercial avec Mentor Graphics permet à ASTER de compléter son offre et proposer des solutions complètes de Design For eXcellence pour le test, la fabrication et la maintenance des cartes électroniques. (Fichier PDF, 102k) Adobe Acrobat PDF
22-JUN-2007 ASTER bénéficie de Microsoft Empower pour développer QuadView. (Fichier PDF, 131k) Adobe Acrobat PDF
15-MAY-2007 ASTER et GOEPEL annoncent une collaboration pour le développement de CASCON ScanVision III.
02-MAY-2007 Mai 2007 - Newsletter n°3 : Visit ASTER during the NEPCON 2007 Show at the NEC in Birmingham.
28-FEB-2007 ASTER et GOEPEL annoncent une collaboration concernant la Vérification de règles DfT (Fichier PDF, 16k) Adobe Acrobat PDF
23-JAN-2007 Publication de l'article "Les conceptions de vos cartes sont-elles testables?" sur le site web d'EngineerLive.
04-NOV-2006 Novembre 2006 - Newletter n° 2 : Visit ASTER at the Electronica 2006 Show in Munich.
16-OCT-2006 ASTER Technologies et TEMENTO Systems annoncent un partenariat stratégique (Fichier PDF, 166k) Adobe Acrobat PDF
14-SEP-2006ASTER présente un article sur le thème du test fonctionnel et analyse de couverture de fautes durant la 5e édition du IEEE Board Test Workshop. (Fichier PDF, 205k) Adobe Acrobat PDF
19-JUN-2006 ASTER nomme RDT comme Distributeur en Israel. RDT Equipment & Systems distibue et assure le support des outils de DfT et d'analyse de couverture de faute de la gamme 'TestWay', depuis le bureau de Tel-Aviv. (Fichier PDF, 145k) Adobe Acrobat PDF
04-MAY-2006 Mai 2006 - Newsletter n°1 : ASTER opens Direct Sales & Support Office in UK.
03-APR-2006 ASTER ouvre une filiale au Royaume-Uni. ASTER Technologies Ltd, créée avec le soutien de Bretagne International est dirigée par Peter COLLINS, directeur des ventes et du marketing. (Fichier PDF, 11k) Adobe Acrobat PDF
30-NOV-2004 & 01-DEC-2004ASTER présente l'article Calculation of Board Test Coverage, au Nordic Test Forum (Fichier PDF, 140k) Adobe Acrobat PDF
09-NOV-2004 ASTER et Router Solutions Incorporated annoncent le premier outil de stratégie de test combiné (Fichier PDF, 14k) Adobe Acrobat PDF
01-MAR-2002 ASTER devient membre l'Open System Alliance de la société VALOR. Le format ODB++ est supporté par TestWay et RepairPlus[/LINK2].
01-JAN-2000 ASTER devient le distributeur officiel des produits Boundary-Scan de la société GOEPEL pour la France.
01-JUN-1993 ASTER devient le distributeur officiel des générateurs de vecteurs de test pour les circuits programmables de la société ACUGEN pour la France.


 
     
Accueil | Nouveautés | Produits | Services | Contact | Conditions d'utilisation | Politique de confidencialité © 1993-2017 Aster Tous Droits Réservés.
Aster - Solutions Provider for PCB Test, improving your yields from design to production.