SCANBOOSTER II une solution Boundary-Scan (JTAG) "low cost" matérielle et logicielle de GOEPEL

SCANBOOSTER II : Un contrôleur “low cost” pour les projets à complexité modérée


Vous recherchez un contrôleur JTAG puissant pour débuter dans le monde JTAG? SCANBOOSTER II est le choix parfait,. Cette dernière génération du contrôleur JTAG/Boundary Scan offre des possibilités presque illimitées pour combiner des technologies embarquées de pointe pour le test, la validation, le débogage ou la programmation.

 

Le SCANBOOSTER II complète la gamme existante de la solution SCANFLEX II avec une solution plus économique orientée pour les projets qui nécessitent moins de performances. Il est utilisé pour le test JTAG/Boundary Scan (JTAG), la programmation (C)PLD/FPGA et la programmation de composants Flash tels que NAND, NOR, SPI, I²C et eMMC.

Le SCANBOOSTER II est basé sur des processeurs multicœurs et FPGA de pointe. Cette structure en multi-thread rend possible l’exécution en parallèle de plusieurs technologies embarquées de test. Ceci est particulièrement important pour les cartes complexes ou l’accessibilité est souvent réduite.

Grâce à son rapport qualité/prix optimisé, il peut également être utilisé dans des applications très sensibles aux coûts, avec le
support complet de la plate-forme logicielle intégrée JTAG/Boundary Scan SYSTEM CASCON. En raison de sa compatibilité avec la plate-forme plus puissante SCANFLEX II, les programmes de test peuvent être transférés directement.

 

  • Pack comprenant une licence logicielle et un contrôleur de test de type SCANBOOSTER II
  • Cycle de développement rapide de logiciels de test,
  • Environnement de développement puissant,
  • Large spectre d’applications pour chaque étape de la vie d’une carte électronique,
  • Configuration flexible et évolutive pour répondre à chaque cas,
  • 100% compatible avec la gamme matérielle SCANFLEX II ®.

Excellent rapport Performance/Prix


ScanBooster II Designer Studio répond aussi bien aux besoins des équipes de conception, de production ou de SAV grâce à ses performances. Le pack, constitué de matériel et de logiciels prêts à l’emploi, est proposé pour un coût assurément attractif.

Applications


ScanBooster II Designer Studio couvre un vaste champ d’applications :

  • Test d’infrastructure et d’interconnexion,
  • Test mémoires (SRAM, DRAM, NAND, NOR,…),
  • Test cluster numérique, mixte,
  • Test de la connectique fonctionnelle,
  • Programmation PLD/FPGA,
  • Programmation mémoire FLASH externe,
  • Programmation mémoire FLASH interne,
  • Test interne de composant (INTEST/BIST),
  • Mise au point/validation prototype carte.

Environnement de développement


CASCON GALAXY® est un environnement complètement intégré possédant une bibliothèque très complète de modèles de composants (> 8000) ainsi que de puissants outils de génération automatique de programme de test (ATPG Infrastructure, Interconnexion, RAM, FLASH, table de vérité). Cet environnement inclut nativement:

  • Plus de 80 interfaces d’entrée CAO,
  • Diagnostic précis, niveau composant et broche,
  • Environnement graphique pour le débogage et la mise au point,
  • Visualisation des vecteurs de test et des registres,
  • Exécution des tests en mode batch ou interactif,
  • Intégration possible dans un banc de test in-situ, MDA ou à sondes mobiles.

ScanAssist : Architecture flexible et extensible


Best in Test - Test & Measurement World - Award Winner

ScanBooster II Designer Studio est capable de suivre l’évolution de vos besoins grâce à son catalogue d’options. Les logiciels de test réalisés antérieurement sont complètement compatibles avec les évolutions de la configuration.

Visualisateur de CAO layout et schématique


Logiciel QuadView est disponible avec une solution 100% intégrée dans l’environnement de développement:

ScanAssist ScanAssist

Vue layout et schématique

La solution Quadview intégrée à l’environnement CASCON offre les possibilités suivantes:

  • Visualisateur carte équipée (layout),
  • Visualisateur schéma électrique,
  • Visualisateur d’interconnexion,
  • Interactivité des 3 visualisateurs,
  • Interactivité avec la fonction “PIN Toggler”(1)

(1) La fonction “PIN Toggler” permet de visualiser en temps réel pendant le test les états logiques présents sur la vue layout.

 

Caractéristiques essentielles


  • Génération automatique de programme de test (ATPG),
  • Diagnostic précis niveau broche,
  • Débogueur interactif multi modes,
  • Compatibilité avec la plate-forme SCANFLEX II,
  • 2 TAP indépendants configurables,
  • Fréquence TCK programmable, 16 MHz max,
  • Module TIC interchangeable,
  • 32 I/O numériques dynamiques configurables mixtes,
  • Connexion au PC via un port USB2.0 ou Gbit-LAN

Pour en savoir plus


Solutions Boundary-Scan de la société GOEPEL

Autres produits

  • TestWay, règles électriques et analyseur de couverture de fautes
  • QuadView, le visualisateur de nouvelle Génération
  • Quad, l’assistant de gestion Qualité

Une sélection de nos clients:

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