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The ASTER Technologies Newsletter

Octobre 2012   Volume 11

Dans ce numéro… 1. CIEN, Démonstration des nouveautés ASTER. 2. TestWay Express : Le Lean NPI optimisé par la couverture de test. 3. QUAD : Connaître ses défauts pour choisir sa stratégie de test. 4. Documentor : La documentation d'un simple clic. 5. QuadView : Les modifications filaires (ECO). 6. JTAG : Programmation ultra-rapide de FLASH.	CIEN, Démonstration des nouveautés ASTER
	Temps fort de la filière électronique, le Carrefour de l'Electronique est le lieu de rencontres et d'échanges en France entre professionnels de l'Industrie et de la Recherche. Au-delà du traditionnel salon professionnel, de nombreux événements complémentaires vont être mis en place : des animations pratiques, des espaces conseils, des conférences techniques, l'innovation à l'honneur, un magazine d'information et une complémentarité avec la tenue en concomitance des 3 salons RF&HYPER Wireless, MESUREXPO VISION et OPTO. ASTER vous attend de 9h00 à 17h00, les 23, 24, 25 octobre 2012, Porte de Versailles, Hall 1, Stand E98. Des démonstrations des nouveautés seront organisées tout au long de ces journées. Votre badge d'accès gratuit
	TestWay Express génère les programmes de test et d'assemblage
Le Lean NPI optimisé par la couverture de test.	TestWay Express est une solution totalement intégrée qui permet aux fabricants d'électronique d'optimiser le lien CAO - test : Définir la ligne de fabrication incluant une combinaison d'équipements d'assemblage, d'inspection ou de test. Estimer la couverture de test de chaque étape et optimiser le résultat combiné. Générer les données d'entrée pour chaque phase de test en reflètant la stratégie retenue. Mesurer la couverture réelle d'un programme de test post-debug. Comparer l'estimation initiale avec la mesure réelle de la couverture du programme de test. Identifier les manques ou les redondances dans la stratégie globale. Le test est essentiel pour l'amélioration de la qualité des produits. En s'efforçant de détecter ou de prévenir les défauts, le fabricant maximise le nombre de produits bons livrés à ses clients. Il est essentiel de : Définir la stratégie de test optimale pour maximiser la couverture de test. Produire une spécification de tests qui définit ce qu'il faut tester. Comparer les tests après mise au point par rapport aux spécifications. Appréhender les capacités du processus de production et déterminer un niveau acceptable de défauts qui peut être livré au client. TestWay Express supporte un large choix d'équipements d'assemblage, d'inspection et de test : AEROFLEX, AGILENT, ASSEMBLEON, MIRTEC, MYDATA, SPEA, TAKAYA, TERADYNE, TRI... En savoir plus…
	QUAD : Connaître ses défauts pour choisir sa stratégie de test
L'analyse des DPMO (Defect Per Million Opportunities) reste l'outil le plus puissant pour connaître et comparer la performance des moyens d'assemblage et de test.	La connaissance du spectre de défauts est nécessaire pour prédire les couvertures de test aux différentes étapes et le rendement de production (First Pass Yield) dès la phase de conception. C'est une source indispensable pour améliorer la conception et les processus de fabrication : La sélection des composants. Le schéma électrique, le routage de la carte. L'estimation du taux de retours client. La compétitivité de marché (Time To Market) et le prix de vente du nouveau produit. En savoir plus…
	Documentor : La documentation d'un simple clic
Documentor s'appuie sur le logiciel d'édition MS-WORD de Microsoft alimenté à partir des analyses de testabilité TestWay.	Documentor publie d'un simple clic tous vos rapports d'analyse de testabilité. Une barre d'outils spécifiques est ajoutée dans MS-WORD qui permet d'accéder directement à TestWay Express. Il suffit de charger un des modèles préalablement créé avec MS-WORD, de sélectionner le projet TestWay à documenter puis de lancer la création du rapport. Plusieurs formats de sortie sont disponibles : DOC, PDF ou HTML. Sur le même principe, Documentor permet de produire toutes vos documentations "Méthodes" : les processus de fabrication, l'assemblage manuel, les contrôles etc… L'utilisation du format HTML est la base d'une solution "Sans papier" où vos documents sont interactifs avec le visualisateur QuadView. Je souhaite avoir une présentation…
	QuadView : Les modifications filaires (ECO)
QuadView est un ensemble de visualisateurs spécialisés pour l'industrie électronique. ASTER lance un module innovant pour la documentation des modifications filaires.	ASTER a développé une solution dédiée à la documentation des modifications filaires de cartes (Engineering Change) en production. Totalement intégrée au logiciel QuadView, une nouvelle barre d'outils permet de créer un numéro d'ECO, couper une piste, percer un via, ajouter un Kapton, placer un composant, ajouter un fil, des points de colle, etc… Toutes ces actions sont automatiquement documentées et exportables vers un éditeur de texte. La comparaison de nomenclatures est réalisée automatiquement et permet de documenter les actions à réaliser sur la carte pour la mettre à niveau. Cette fonctionnalité innovante réduit considérablement les efforts d'ingénierie lors de la création et la génération de la documentation. Je souhaite avoir une version d'évaluation…
	JTAG: Programmation Ultra-rapide de FLASH
Goepel propose des IP à télécharger dans un FPGA pour accélérer la programmation de FLASH. Les performances sont remarquables car la programmation via JTAG met en œuvre uniquement les broches du FPGA reliées à celles de la FLASH.	ASTER Technologies, distributeur et leader du marché en France dans le domaine JTAG/Boundary Scan avec la solution CASCON de GOEPEL Electronic, présente la technologie ChipVORX. Les IP spécialisées sont intégrées dans la bibliothèque CASCON des modèles de FPGA des différents fabricants : une avancée importante vers l'instrumentation embarquée dans les composants (Chip Embedded Instrumentation). Cette nouvelle technologie accélère considérablement la programmation ISP (In System Programming) des FLASH reliées à un FPGA. Elle trouve également des applications pour le test à vitesse fonctionnelle de mémoires RAM, la mesure de fréquence d'horloge UFM (Universal Frequency Measurements) et prochainement le test de signaux ultra-rapides BERT (Bit Errors Rate Tests). ChipVORX est capable d'identifier les cellules Boundary-Scan qui peuvent être remplacées par une broche de FPGA. Cette solution peut être immédiatement déployée sur une carte existante. La quasi-totalité des FPGA présents sur le marché est déjà supportée. Je souhaite avoir une présentation…

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