Solution de test Boundary-Scan "Entrée de gamme"

ScanBooster Designer Studio
  • Pack “low cost” richement doté, matériel + logiciel,
  • Cycle de développement rapide de logiciels de test,
  • Environnement de développement puissant,
  • Large spectre d’applications pour chaque étape de la vie d’une carte électronique,
  • Configuration flexible et évolutive pour répondre à chaque cas,
  • 100% compatible avec la gamme matérielle SCANFLEX®.

Points forts

Excellent rapport Performance/Prix

ScanBooster Designer Studio répond aussi bien aux besoins des équipes de conception, de production ou de SAV grâce à ses performances. Le pack, constitué de matériel et de logiciels prêts à l’emploi, est proposé pour un coût assurément attractif.

Champ d’application

ScanBooster Designer Studio couvre un vaste champ d’applications :

  • Test d’infrastructure et d’interconnexion,
  • Test mémoires (SRAM, DRAM, NAND, NOR,…),
  • Test cluster numérique, mixte,
  • Test de la connectique fonctionnelle,
  • Programmation PLD/FPGA,
  • Programmation mémoire FLASH externe,
  • Programmation mémoire FLASH interne,
  • Test interne de composant (INTEST/BIST),
  • Mise au point/validation prototype carte.

Puissant environnement de développement

CASCON GALAXY® est un environnement complètement intégré possédant une bibliothèque très complète de modèles de composants (> 8000) ainsi que de puissants outils de génération automatique de programme de test (ATPG Infrastructure, Interconnexion, RAM, FLASH, table de vérité). Cet environnement inclut nativement:

  • Plus de 80 interfaces d’entrée CAO,
  • Diagnostic précis, niveau composant et broche,
  • Environnement graphique pour le débogage et la mise au point,
  • Visualisation des vecteurs de test et des registres,
  • Exécution des tests en mode batch ou interactif,
  • Intégration possible dans un banc de test in-situ, MDA ou à sondes mobiles.

ScanAssist : Architecture flexible et extensible

Best in Test - Test & Measurement World - Award Winner

ScanBooster Designer Studio est capable de suivre l’évolution de vos besoins grâce à son catalogue d’options. Les logiciels de test réalisés antérieurement sont complètement compatibles avec les évolutions de la configuration.

Parmi les options disponibles :

ScanAssist    ScanAssist

QuadView

  • Visualisateur carte équipée (layout),
  • Visualisateur schéma électrique,
  • Visualisateur d’interconnexion,
  • Interactivité des 3 visualisateurs,
  • Interactivité avec la fonction “PIN Toggler”.

Fonction “PIN Toggler”, qué sa quo?

  • observation interactive de l’état logique de nœuds, le pendant du contrôle,
  • contrôle interactif par assignation graphique d’état logique sur des nœuds pilotables par un composant JTAG, directement ou au travers de buffers, portes, …
  • enregistrement, édition, exécution de vecteurs pour une création rapide de test spécifique,
  • aucun firmware à charger.

Caractéristiques essentielles

  • Génération automatique de programme de test (ATPG),
  • Diagnostic précis niveau broche,
  • Débogueur interactif multi modes,
  • Compatibilité avec la plate-forme SCANFLEX,
  • 2 TAP indépendants configurables,
  • Fréquence TCK programmable, 16 MHz max,
  • Module TIC interchangeable,
  • 32 I/O numériques dynamiques configurables,
  • 2 I/O analogiques (10 bits) configurables,
  • 6 I/O utilitaires et 2 synchros.

Pour en savoir plus


Solutions Boundary-Scan de la société GOEPEL

Autres produits

  • TestWay, règles électriques et analyseur de couverture de fautes
  • QuadView, le visualisateur de nouvelle Génération
  • Quad, l’assistant de gestion Qualité

Une sélection de nos clients:

A selection of our customers
Nov 12-15

Productronica 2019

Nov 12 - Nov 15
Munich

Evènements Passés

Sep 24-26

Forum de l’Électronique 2019

Sep 24 - Sep 26
Paris
France
Avr 24-26

NEPCON Chine Shanghai 2019 – stand 1N13

Avr 24 - Avr 26
Shanghai
Chine
Jan 26-31

IPC APEX Expo 2019

Jan 26 - Jan 31
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Electronica Munich 2018

13 Nov 2018 - 16 Nov 2018
Munich
Oct 23-24

Enova Paris 2018

23 Oct 2018 - 24 Oct 2018
Paris
France
Oct 11

Réunion Utilisateurs 2018 TestWay – QuadView -Quad

11 Oct 2018 @ 9 h 00 min - 16 h 30 min CEST
Cesson-Sévigné