Cesson-Sévigné, France / ENOVA 2017, Paris,

le 19 Septembre 2017.

Les testeurs fonctionnels sont un défi :

• Le développement du programme de test fonctionnel prend du temps par rapport au test structurel.
• Il est extrêmement difficile de prédire la couverture de test fournie par un programme de test à moins qu’une simulation de défaut n’ait été effectuée.
• Le diagnostic de défaut est limité ou, dans certains cas, inexistant, la majorité des tests fournissant simplement un statut PASS / FAIL

ASTER a développé une technique révolutionnaire qui élimine les inconvénients du test fonctionnel : L’intégration de QuadView avec TestStand et LabView.

• Localisation rapide de l’origine du défaut au travers d’une station de réparation QuadView
• Meilleur diagnostic grâce au « Sherlock algorithm ». Analyse des redondances de test entre les tests structurels et le test fonctionnel ou entre les pas de test fonctionnels
• Analyse de la couverture de test pendant le développement du test fonctionnel
• Diminue les temps de mise au point en utilisant la schématique interactive et la vue synthétique

Pour plus d’information, ou avoir une démonstration des nouveautés, venez nous rencontrer sur le stand P24 au salon ENOVA Paris du 19 au 21 septembre. Vous pouvez aussi consulter notre site web www.aster-technologies.com ou nous contacter au 02 99 83 01 01.