<h2 class="fullwidth_title" >Communiqué de presse:</h2>

Cesson-Sévigné, France / ENOVA 2017, Paris,

le 19 Septembre 2017.

Les testeurs fonctionnels sont un défi :

  • Le développement du programme de test fonctionnel prend du temps par rapport au test structurel.
  • Il est extrêmement difficile de prédire la couverture de test fournie par un programme de test à moins qu’une simulation de défaut n’ait été effectuée.
  • Le diagnostic de défaut est limité ou, dans certains cas, inexistant, la majorité des tests fournissant simplement un statut PASS / FAIL

 

ASTER a développé une technique révolutionnaire qui élimine les inconvénients du test fonctionnel : L’intégration de QuadView avec TestStand et LabView.

  • Localisation rapide de l’origine du défaut au travers d’une station de réparation QuadView
  • Meilleur diagnostic grâce au « Sherlock algorithm ». Analyse des redondances de test entre les tests structurels et le test fonctionnel ou entre les pas de test fonctionnels
  • Analyse de la couverture de test pendant le développement du test fonctionnel
  • Diminue les temps de mise au point en utilisant la schématique interactive et la vue synthétique

 

Pour plus d’information, ou avoir une démonstration des nouveautés, venez nous rencontrer sur le stand P24 au salon ENOVA Paris du 19 au 21 septembre. Vous pouvez aussi consulter notre site web www.aster-technologies.com ou nous contacter au 02 99 83 01 01.

Une sélection de nos clients:

A selection of our customers
Nov 15-19

Electronica Munich 2022

Nov 15 - Nov 17
Munich
Sep 20-22

SEPEM Toulouse 2022

Sep 20 - Sep 22
AUSSONNE
France
Mai 17-20

GLOBAL INDUSTRIE 2022

Mai 17 @ 9 h 00 min - Mai 20 @ 17 h 00 min
Jan 25-27

IPC APEX Expo 2022

Jan 25 - Jan 25
San Diego
United States
Mai 17-20

GLOBAL INDUSTRIE 2020

17 Mai 2020 - 20 Mai 2020
Nov 12

Productronica 2019

12 Nov 2019
Munich
Sep 24-26

Forum de l’Électronique 2019

24 Sep 2019 - 26 Sep 2019
Paris
France