Une sélection de nos clients :

Clients d'ASTER statisfaits


Actualité :

du 19-SEP-2017 au 21-SEP-2017 :
ENOVA Paris - Stand P24 (Paris, France)
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04-MAY-2017 :
ACSIEL - Rendez-nous visite a la Journée régionale de l'électronique (Nantes, France)
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du 25-APR-2017 au 27-APR-2017 :
Nepcon CHINA - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth 1N14 (Shanghai, Chine)
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du 14-FEB-2017 au 16-FEB-2017 :
APEX EXPO - ASTER Technologies are exhibiting at the APEX EXPO in San Diego between February 14th - 16th, 2017. So why not visit booth 3844 during the show, when we can discuss your requirements and demonstrate the many features of our analysis tools. (San Diego, Etats-Unis)
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du 08-NOV-2016 au 11-NOV-2016 :
ASTER announces the first system level PCB viewer integrated with National Instruments TestStand.
Rendez visite à ASTER a Electronica, Hall A1, stand 232.
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14-SEP-2016 & 15-SEP-2016 :
ENOVA Paris - Stand D91 (Paris, France)
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du 12-SEP-2016 au 15-SEP-2016 :
Autotestcon - ASTER Technologies are exhibiting at Autotestcon on booth 1004 (Anaheim, Etats-Unis)
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du 26-APR-2016 au 28-APR-2016 :
Nepcon CHINA - Design for Excellence (DfX) - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth 1N17 (Shanghai, Chine)
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du 15-MAR-2016 au 17-MAR-2016 :
IPC APEX EXPO - Pleasevisit us at booth 1651 (Las vegas, Etats-Unis)
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07-MAR-2016 :
March 2016 - Newsletter n.14: Visit ASTER at IPC APEX EXPO 2016 Show in Las Vegas
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21-OCT-2015 :
TestWay news 2015
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21-OCT-2015 :
November 2015 - Newsletter n.12: Visit ASTER at the AUTOTESTCON 2015 Show in Maryland, USA
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du 10-NOV-2015 au 13-NOV-2015 :
Productronica - Rendez visite à ASTER a Productronica, Hall A1, stand 232. Information & incription (Munich, Allemagne)
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du 03-NOV-2015 au 05-NOV-2015 :
IEEE AUTOTESTCON - Rendez visite à ASTER sur le stand IEEE AutoTestCon, Stand 431. Information & inscription. Press release (National Harbor, Etats-Unis)
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du 22-SEP-2015 au 24-SEP-2015 :
ENOVA Paris - Hall 4, Stand E56. Badge gratuit (Paris, France)
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du 21-APR-2015 au 23-APR-2015 :
Nepcon CHINA - Design for Excellence (DfX) - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth B-1J14 (Shanghai, Chine)
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du 24-FEB-2015 au 26-FEB-2015 :
IPC APEX EXPO - ASTER Technologies are exhibiting at APEX Expo between February 24th - 26th, 2015, Booth 415. So why not visit the booth during the show, when we can discuss your requirements and demonstrate the many features of our analysis tools. (San Diego, Etats-Unis)
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du 11-NOV-2014 au 14-NOV-2014 :
Electronica - ASTER Technologies are exhibiting at Electronica.
So why not visit the booth A1 352 when we can discuss your requirements and demonstrate our DfX & test coverage analysis tools. Read more …with our press release. (Munich, Allemagne)
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du 23-APR-2014 au 25-APR-2014 :
Nepcon CHINA - Design for Excellence (DfX) - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth A1-1G85 (Shanghai, Chine)
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du 25-MAR-2014 au 27-MAR-2014 :
IPC APEX EXPO - Stand 607 (Las vegas, Etats-Unis)
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TPQR : Test Program Quality Report


ASTER Technologies, le leader en analyse de testabilité et de couverture de test des cartes électroniques, présente sa nouvelle génération d’outils “easy-to-use” pour l’analyse de carte.

TPQR [Test Program Quality Report] s’appuie sur le puissant outil d’analyse TestWay et permet à ses utilisateurs de quantifier et qualifier la couverture pour de nombreux équipements de test et d’inspection. 
TPQR
Download Now TPQR Brochure
TPQR Brochure 

Test Report for Takaya flying prober

Ce produit a été mis au point pour relever les nombreux défis auxquels les responsables “produit” doivent faire face aujourd’hui, comme par exemple: la diminution des cycles de conception/fabrication, la compression des budgets et l’amélioration constante de la qualité des cartes électroniques. Plus précisément, à un moment où les clients s’attendent à acheter des “cartes bonnes uniquement”, il devient primordial d’appréhender la capacité d’un test à capturer les défauts de production.
En d’autres termes, “quel est le taux de couverture de test ?”

Dans ce contexte, cette nouvelle génération de produits a été conçue pour être utilisée par les sous-traitants en électronique (EMS) et leurs clients, les fabricants d’équipements (OEM), afin de leur fournir une mesure de la couverture de test, précise, détaillée et impartiale.

QuadView-TPQR est un produit d’entrée de gamme qui permet aux utilisateurs de déterminer la couverture d’un équipement de test ou d’inspection. Cet outil importe directement le programme de test et calcule la couverture. Des rapports détaillés au format HTML et MS-Excel sont générés pour chaque équipement de test mais également consolidés pour l’ensemble de la ligne de production. Il identifie rapidement une déficience globale de couverture tout comme une déficience de n’importe quelle étape de test ou d’inspection.

TPQR analyse la capacité de chaque mesure à détecter un certain spectre de défauts en fonction du type de composant, de la valeur, de la tolérance, de l’environnement de mesure, de l’emplacement du composant, de sa forme, de son empattement...

TPQR est construit autour du noyau QuadView, visualisateur de nouvelle génération. Mettant à profit les capacités d’affichage du schéma d’implantation et du schéma électrique, il affiche à l’aide d’un code de couleur la couverture tant au niveau des composants que de leurs broches.

Il supporte plus de 35 équipements de test ou d’inspection (AOI, AXI, BST, FPT, ICT, et MDA) utilisés dans l’industrie telle que :

Acculogic: ScanNavigator, Scorpion, Sprint; Aeroflex: 42xx; Agilent Technologies: i3070, 5DX, SJ10, SJ50; Asset; Corelis; Dr. Eschke: CR350; Flynn Systems: onTAP; Goepel: CASCON, OPTICON; JTAG Technologies; MIRTEC: MV Series; MYDATA; OMRON; Orbotech: S22, TRION, VT9300; SAKI; SEICA: VIVA; SPEA: 3030, 4040; Takaya: APT8xxx, APT9xxx; Teradyne: Z1800, Spectrum, GR228x, TS124, TS128; TRI: TR7500, TR8001; VISCOM; VI-Technology: Vi Series; XJTAG et YESTech.

Principaux avantages

TPQR Concept

Facilité d’utilisation

Visualiser la couverture de test, en important simplement le programme de test.

Licence évolutive

Convertir votre licence TPQR vers une configuration TestWay offrant des possibilités plus sophistiquées d’analyse.

Large éventail de testeur ou de moyen d’inspection

Importer le programme de test ou le rapport de mesure d’un large éventail de moyen : Acculogic: ScanNavigator, Scorpion, Sprint; Aeroflex: 42xx; Agilent Technologies: i3070, 5DX, SJ10, SJ50; Asset; Corelis; Dr. Eschke: CR350; Flynn Systems: onTAP; Goepel: CASCON, OPTICON; JTAG Technologies; MIRTEC: MV Series; MYDATA; OMRON; Orbotech: S22, TRION, VT9300; SAKI; SEICA: VIVA; SPEA: 3030, 4040; Takaya: APT8xxx, APT9xxx; Teradyne: Z1800, Spectrum, GR228x, TS124, TS128; TRI: TR7500, TR8001; VISCOM; VI-Technology: Vi Series; XJTAG et YESTech.

Analyse de couverture

Cette nouvelle gamme s’appuie sur la référence mondiale en analyse de couverture TestWay. Elle permet à ses utilisateurs de quantifier et qualifier la couverture pour de nombreux équipements de test et d’inspection. Elle est utilisée par les sous-traitants en électronique (EMS) et leurs clients, les fabricants d’équipements (OEM), afin de leur fournir une mesure de la couverture de test, précise, détaillée et impartiale.

Support des données CAO

Les projets FabMaster, TestExpert ou CAMCAD utilisés pour la génération de programme de test sont importés par TPQR pour modéliser et visualiser la carte équipée (layout). Alternativement, un large éventail de format Layout peut être importé incluant : Cadence, CADIF, GenCad, GenCam, Mentor Neutral, ODB++, Orcad, Pads, Protel, Zuken…

Rapport Complet

Créer des rapports HTML de la couverture de test. Les rapports ont été conçus pour être navigués par un simple navigateur Internet. Les utilisateurs peuvent partager des rapports interactifs de la conception jusqu’au test.

Rapport MS-Excel

Rapport Excel présentant la couverture sur le modèle PPVS. Ce modèle indique pour chaque composant la capacité du test à vérifier sa Présence, sa Polarité, sa Valeur, ses Soudures.

Code de couleur

Visualiser la couverture de test pour les composants et les broches en utilisant le codage de couleur "feu de circulation".

Vert = Bien testé ;
Orange = Partiellement testé ;
Rouge = Pas testé.

Entièrement interactif

Autoriser la navigation interactive entre le rapport d’analyse et la représentation graphique de la carte.

Optimisation des temps de test

Lorsqu’un test à sondes mobiles TAKAYA est combiné avec un test Boundary-Scan/JTAG comme ACCULOGIC, ASSET, CORELIS, Flynn, GOEPEL, JTAG Technologies ou XJTAG, le programme de test TAKAYA est dynamiquement optimisé en éliminant les tests redondants. Le temps de test TAKAYA se voit réduit dans une proportion impressionnante allant de 30% à 80%, augmentant de façon significative le rendement de la ligne de production.

 

En savoir plus

Informations complémentaires

 

Autres produits

  • TestWay, l’analyseur de Testabilité
  • QuadView, le visualisateur de Nouvelle Génération
  • Quad, l’assistant de gestion Qualité
  • QuadFeederSafe, sécurisez vos plans de chargements
  • WildScan, le traducteur de Test Boundary-Scan


 
     
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