Une sélection de nos clients :

Clients d'ASTER statisfaits


Actualité :

du 19-SEP-2017 au 21-SEP-2017 :
ENOVA Paris - Stand P24 (Paris, France)
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enova2017

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04-MAY-2017 :
ACSIEL - Rendez-nous visite a la Journée régionale de l'électronique (Nantes, France)
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ACSIEL-JRE-2017_bandeau_Evenium

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du 25-APR-2017 au 27-APR-2017 :
Nepcon CHINA - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth 1N14 (Shanghai, Chine)
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NEPCON-China-2017-Show-Logo

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du 14-FEB-2017 au 16-FEB-2017 :
APEX EXPO - ASTER Technologies are exhibiting at the APEX EXPO in San Diego between February 14th - 16th, 2017. So why not visit booth 3844 during the show, when we can discuss your requirements and demonstrate the many features of our analysis tools. (San Diego, Etats-Unis)
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du 08-NOV-2016 au 11-NOV-2016 :
ASTER announces the first system level PCB viewer integrated with National Instruments TestStand.
Rendez visite à ASTER a Electronica, Hall A1, stand 232.
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14-SEP-2016 & 15-SEP-2016 :
ENOVA Paris - Stand D91 (Paris, France)
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enova

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du 12-SEP-2016 au 15-SEP-2016 :
Autotestcon - ASTER Technologies are exhibiting at Autotestcon on booth 1004 (Anaheim, Etats-Unis)
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du 26-APR-2016 au 28-APR-2016 :
Nepcon CHINA - Design for Excellence (DfX) - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth 1N17 (Shanghai, Chine)
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du 15-MAR-2016 au 17-MAR-2016 :
IPC APEX EXPO - Pleasevisit us at booth 1651 (Las vegas, Etats-Unis)
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07-MAR-2016 :
March 2016 - Newsletter n.14: Visit ASTER at IPC APEX EXPO 2016 Show in Las Vegas
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21-OCT-2015 :
TestWay news 2015
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21-OCT-2015 :
November 2015 - Newsletter n.12: Visit ASTER at the AUTOTESTCON 2015 Show in Maryland, USA
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du 10-NOV-2015 au 13-NOV-2015 :
Productronica - Rendez visite à ASTER a Productronica, Hall A1, stand 232. Information & incription (Munich, Allemagne)
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du 03-NOV-2015 au 05-NOV-2015 :
IEEE AUTOTESTCON - Rendez visite à ASTER sur le stand IEEE AutoTestCon, Stand 431. Information & inscription. Press release (National Harbor, Etats-Unis)
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du 22-SEP-2015 au 24-SEP-2015 :
ENOVA Paris - Hall 4, Stand E56. Badge gratuit (Paris, France)
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du 21-APR-2015 au 23-APR-2015 :
Nepcon CHINA - Design for Excellence (DfX) - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth B-1J14 (Shanghai, Chine)
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du 24-FEB-2015 au 26-FEB-2015 :
IPC APEX EXPO - ASTER Technologies are exhibiting at APEX Expo between February 24th - 26th, 2015, Booth 415. So why not visit the booth during the show, when we can discuss your requirements and demonstrate the many features of our analysis tools. (San Diego, Etats-Unis)
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du 11-NOV-2014 au 14-NOV-2014 :
Electronica - ASTER Technologies are exhibiting at Electronica.
So why not visit the booth A1 352 when we can discuss your requirements and demonstrate our DfX & test coverage analysis tools. Read more …with our press release. (Munich, Allemagne)
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du 23-APR-2014 au 25-APR-2014 :
Nepcon CHINA - Design for Excellence (DfX) - Vist ASTER during NEPCON exibition on Booth A1-1G85 (Shanghai, Chine)
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du 25-MAR-2014 au 27-MAR-2014 :
IPC APEX EXPO - Stand 607 (Las vegas, Etats-Unis)
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Services ASTER

Analyse de Testabilité

ASTER fournit une large gamme de services en analyse de testabilité basée sur notre produit TestWay :

  • Vérification de règles pour le test In-Circuit, fonctionnel et Boundary-Scan.
  • Optimisation des points de test - Jusqu'à 70% de points de test économisés dès la saisie de schéma, rétro-annotation automatique des outils CAO.
  • Distribution du test sur la ligne de production.
  • Prédiction et mesure de la couverture de test.
  • Prédiction du "Production yield" - Probabilité de défauts.
  • Génération des programmes de test Boundary-Scan.

Boundary-Scan

  • Bibliothèque de modèles BSDL (Plus de 500 fichiers BSDL validés sur le composant physique).
  • Validation de modèles BSDL par simulation VERILOG ou VHDL.
  • Validation de modèles BSDL par comparaison avec le composant physique.
  • Analyse de Testalibilité.
  • Développement des tests Boundary-Scan (test d'infrastructure, test d'interconnexion, test de clusters, programmation de Flash EEPROM, CPLD et de FPGA, test au niveau système...).
  • Prédiction et mesure de la couverture de test Boundary-Scan.
  • Transfert des tests Boundary-Scan d'une solution PC vers un testeur IN-CIRCUIT (Genrad GR228x, Agilent HP3070, Teradyne Z1800, Teradyne Spectrum, Ifr 4200, Rohde & Schwarz).

Simulation, Test in-circuit, Sondes mobiles

Formation

Les formations sont assurées par l'un de nos ingénieurs spécialistes du domaine à présenter.
La société ASTER Ingénierie est homologuée comme organisme de formation sous le n° 533 504 044 35, Préfecture Région Bretagne. Une convention de stage est donc adressée sur simple demande.

Les formations proposées portent sur le test des cartes électroniques à la fois au niveau de la conception (Analyse de testabilité et optimisation de la stratégie de test) et de la production (Test Boundary-Scan). Elles peuvent être classées en deux catégories :




 
     
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